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  • 晶片自動分類及OCR識讀機 首頁 > 晶片/外延片/襯底片測量設備

    設備可自動從客戶MES系統獲得原始數據,根據相關指標進行重新分類或挑片,分類的同時對晶片上的SEMI字體刻號進行識別、驗證,設備分類及OCR識別后,自動將MES數據進行更新。

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